比亚迪股份有限公司：一种芯片老化测试系统，笔 专利

恒信一对一专利转让服务：一种芯片老化测试系统

专利号:CN200720122403.9
专利权人:比亚迪股份有限公司
摘要:本实用新型适用于芯片测试领域，提供了一种芯片老化测试系统，该系统包括微控制器，以及与该微控制器电连接的输入控制电路、电压
外观型专利
所属行业:通信/电子/数码
笔 专利